能量色散X光谱仪
所属领域
新材料
归属单位
河北工业大学
主要技术指标
1.超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒 2.全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比 3.高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性 4.高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和零费用运行 5.超大样品室，可容纳300mm*(乘号)400mm的样品 6.全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制 7.镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术
主要功能/应用范围
1.ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析, 2.各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析, 3.各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.
1.超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒 2.全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比 3.高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性 4.高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和零费用运行 5.超大样品室，可容纳300mm*(乘号)400mm的样品 6.全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制 7.镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术
主要功能/应用范围
1.ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析, 2.各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析, 3.各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.
联系人：姜晓霞
联系电话：13843184953
地址：天津市北辰区
